高温环境下光电模块性能测试装置及测试方法

摘要

本发明公布了高温环境下光电模块性能测试装置及测试方法，包括高温烤箱，在高温烤箱内安装有内部测试板，还包括外部测试板，内部测试板与外部测试板连接，外部测试板的输出端传输至计算机。本发明直接对整个光电模块进行加温实验，采集光电模块的5个关键参数在温度变化下的采样数据，对采样数据利用阿伦尼斯模型进行计算，从而评估光电模块在正常情况下的寿命；且不需要剥离出LED即可进行测试，方便实验的成规模应用；最佳的测试温度对应的加速因子可以取得最大值，在此温度上进行实验，其测试时间实际上远远低于在标准规定的温度下进行测试所需的时间，测试时间往往只有原来的测试时间的5%左右，极大地缩短了测试时间。

主权项

高温环境下光电模块性能测试装置，其特征在于：包括高温烤箱，在高温烤箱内安装有内部测试板，还包括外部测试板，内部测试板与外部测试板连接，外部测试板与计算机相连接。