逆变器老化测试系统

摘要

本实用新型涉及一种逆变器老化测试系统，用于对包含嵌入式芯片的子系统进行功能测试，包含嵌入式子系统和测试平台，所述的嵌入式子系统包括嵌入式芯片、与所述的嵌入式芯片连接的IO口接口电路和AD口接口电路，通过IO输出与AD输入引出口接入一个带有滤波电路和写有固件程序的测试平台，用于测试各路IO口及接口电路和各路AD口及接口电路是否正常，每一路判断结束后，通过对所述的嵌入式芯片外接LED灯或者串口通讯进行逐条显示每一路电路是否正常状态并打印记录。本实用新型可以非常方便有效地测试出大批量生产的嵌入式子系统中芯片本身的对外输入和输出端口、焊接、外围电路是否正常，提高生产效率、保证测试质量。

主权项

一种逆变器老化测试系统，用于对包含嵌入式芯片的子系统进行功能测试，其特征在于：包含嵌入式子系统（100）和测试平台（200），所述的嵌入式子系统包括嵌入式芯片（30）、与所述的嵌入式芯片（30）连接的IO口接口电路(40)和AD口接口电路(50)，通过IO输出与AD输入引出口(60)接入一个带有滤波电路(70)的测试平台(200)，所述的嵌入式芯片（30）外接LED灯或者串口通讯，进行逐条显示每一路电路是否正常状态并打印记录。