发明名称 | 一种基于Labview的贴片电容电极宽度测量方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种基于Labview的贴片电容电极宽度测量方法,首先,调整摄像头的上下位置使其位于合适位置,同时点亮白色环形灯,将一批贴片电容制品放置在摄像头下方的区域内;接着关闭白灯光源,将红光光源覆盖在待测电容上;然后,调整焦距的大小,使监测图像清晰,点击Labview软件测量画面上的测量按钮开始测量,并将测量结果自动导入数据库中;最后将测完的电容拿走,换为下一批待测电容进行测量。使用基于Labview的图像测量软件,可根据不同的机种进行相应图像清晰度和红光光源亮度调整,用图像自动测量代替人眼测量,可根据灰度对比找出更加准确的边界,得到更精确的测量值,避免了人为估读的测定误差。 | ||
申请公布号 | CN103292703A | 申请公布日期 | 2013.09.11 |
申请号 | CN201210044053.4 | 申请日期 | 2012.02.24 |
申请人 | 天津三星电机有限公司 | 发明人 | 黄琛;李江宁;崔明虎;李永峰 |
分类号 | G01B11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/02(2006.01)I |
代理机构 | 天津市三利专利商标代理有限公司 12107 | 代理人 | 闫俊芬 |
主权项 | 一种基于Labview的贴片电容电极宽度测量方法,其特征在于:该方法所采用的测量系统包括计算机、平台,固定设置在平台之上的可升降摄像头支架,固定设置在摄像头支架上并使镜头垂直朝向升降平台表面且与计算机保持通讯连接的摄像头,固定设置在所述的摄像头外周上的环形灯,以及半球形发光罩,其中,所述的半球形发光罩包括底部设置在罩体底部的圆形发光体和半球形外壳以及设置在发光罩正顶处的与摄像头镜头对应的圆形通孔;所述的贴片电容电极宽度测量方法包括以下步骤,首先,调整摄像头的上下位置使其位于合适位置,同时点亮白色环形灯,将一批贴片电容制品放置在摄像头下方的区域内,观察计算机显示器上的监测图像,如果电容之间有接触则将其分开,确保每个待测电容与其他电容无接触;接着,关闭白灯光源,将红光光源覆盖在待测电容上并使通孔与摄像头上下对应,打开红光光源并调节红光亮度;然后,调整焦距的大小,使监测图像清晰,点击Labview软件测量画面上的测量按钮开始测量,软件根据灰度对比查找电极边缘获得电极宽度值并将测量结果自动导入数据库中;最后将测完的电容拿走,换为下一批待测电容进行测量。 | ||
地址 | 300210 天津市河西区黑牛城道27号 |