发明名称 用于控制工业工艺的的多芯片模块和方法
摘要 本申请案涉及用于控制工业工艺的多芯片模块和方法。一种多芯片模块包含第一裸片,所述第一裸片具有用以产生信号以控制工业工艺的控制处理器和输入/输出接口。所述多芯片模块还包含第二裸片,所述第二裸片具有监督处理器和输入/输出接口。所述控制处理器和所述监督处理器中的一者的处理器故障由所述控制处理器和所述监督处理器中的另一者检测,且检测所述故障的所述处理器经配置以经由其输入/输出接口断言信号以致使所述工业工艺响应于所述故障转变到安全状态。另外,所述第一和第二裸片使用不同工艺技术产生。
申请公布号 CN103294022A 申请公布日期 2013.09.11
申请号 CN201310066308.1 申请日期 2013.03.01
申请人 德州仪器公司 发明人 萨姆·格南阿·萨芭帕蒂;亚历山大·泰萨格洛
分类号 G05B19/418(2006.01)I 主分类号 G05B19/418(2006.01)I
代理机构 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人 王璐
主权项 一种多芯片模块(图1,100),其包括:第一裸片(104),其包括:控制处理器(104),其产生信号以控制工业工艺(108);以及输入/输出接口;第二裸片(102),其包括:监督处理器(102);以及输入/输出接口;且其中所述控制处理器和所述监督处理器中的一者的处理器故障由所述控制处理器和所述监督处理器中的另一者检测,且检测所述故障的所述处理器经配置以经由其输入/输出接口断言信号以致使工业工艺响应于所述故障转变到安全状态;且其中所述第一和第二裸片使用不同工艺技术(102、104)产生。
地址 美国德克萨斯州
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