发明名称 |
一种制备铜种子层的方法 |
摘要 |
本发明涉及半导体制造领域,确切的说,具体涉及一种制备铜种子层的方法。本发明在使用传统工艺中制备完成铜种子层后,继续进行一除气工艺,可使通孔处沉积的铜流入通孔底部,然后再沉积一较薄的铜种子层,从而降低填充的深宽比,进而提高填充种子层底部的覆盖性,减少后续铜电镀时出现孔隙的几率,进而提高产品性能和良率。 |
申请公布号 |
CN103295958A |
申请公布日期 |
2013.09.11 |
申请号 |
CN201310221366.7 |
申请日期 |
2013.06.04 |
申请人 |
上海华力微电子有限公司 |
发明人 |
周军;朱亚丹;贺忻 |
分类号 |
H01L21/768(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/768(2006.01)I |
代理机构 |
上海申新律师事务所 31272 |
代理人 |
竺路玲 |
主权项 |
一种制备铜种子层的方法,应用于后道铜互连工艺中,其特征在于,包括:提供一具有铜互连沟槽的衬底;于所述铜互连沟槽中沉积第一铜种子层;继续进行第二除气工艺后,于所述铜互连沟槽中沉积第二铜种子层;填充铜籽晶层充满所述铜互连沟槽后,继续铜电镀工艺;其中,所述第二铜种子层完全覆盖所述铜互连沟槽的底部及其侧壁。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号 |