| 发明名称 | 邻近检测装置、邻近检测方法及电子设备 | ||
| 摘要 | 本发明公开了邻近检测装置、邻近检测方法及电子设备。其中，该邻近检测装置，包括：显示单元，具有显示图像表面，在所述显示图像表面中多个像素电极以矩阵形布置；以及邻近操作检测单元，在其中在叠在所述显示图像表面的位置处布置用于邻近操作检测的透明电极从而形成操作表面，形成所述透明电极的导电薄膜图案的线性图案的间距等于或小于所述像素电极在一个方向上的布置间距。 | ||
| 申请公布号 | CN103294256A | 申请公布日期 | 2013.09.11 |
| 申请号 | CN201310039500.1 | 申请日期 | 2013.01.31 |
| 申请人 | 株式会社日本显示器西 | 发明人 | 安达浩一郎 |
| 分类号 | G06F3/041(2006.01)I;G06F3/044(2006.01)I;G02F1/1343(2006.01)I;G02F1/1333(2006.01)I | 主分类号 | G06F3/041(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人 | 余刚;吴孟秋 |
| 主权项 | 一种邻近检测装置，包括：显示单元，具有显示图像表面，在所述显示图像表面中多个像素电极以矩阵形布置；以及邻近操作检测单元，在其中在叠在所述显示图像表面的位置处布置用于邻近操作检测的透明电极从而形成操作表面，形成所述透明电极的导电薄膜图案的线性图案的间距等于或小于所述像素电极在一个方向上的布置间距。 | ||
| 地址 | 日本爱知县 | ||