发明名称 | 用于X射线荧光光谱分析的织物样片 | ||
摘要 | 本实用新型公开了一种用于X射线荧光光谱分析的织物样片,包括偏硼酸锂空白熔片,熔片上通过树脂层复合有标准贴衬织物层。本实用新型结构合理,由偏硼酸锂熔片做衬底,通过树脂层将标准贴衬织物或定量滤纸复合在熔片上。检测液体样品时,与样品杯相比,采用织物样片所需样品量较少并可以在真空条件下检测。利用织物样片建立的工作曲线可用来检测相应织物样品,具有线性好,相关系数高的特点。 | ||
申请公布号 | CN203191238U | 申请公布日期 | 2013.09.11 |
申请号 | CN201320181363.0 | 申请日期 | 2013.04.12 |
申请人 | 中华人民共和国南通出入境检验检疫局 | 发明人 | 窦怀智;申晓萍;侯晋 |
分类号 | G01N1/28(2006.01)I;G01N23/223(2006.01)I | 主分类号 | G01N1/28(2006.01)I |
代理机构 | 南通市永通专利事务所 32100 | 代理人 | 葛雷 |
主权项 | 一种用于X射线荧光光谱分析的织物样片,其特征是:包括偏硼酸锂空白熔片,熔片上通过树脂层复合有标准贴衬织物层。 | ||
地址 | 226018 江苏省南通市崇川区崇川路99号 |