发明名称 用于X射线荧光光谱分析的织物样片
摘要 本实用新型公开了一种用于X射线荧光光谱分析的织物样片,包括偏硼酸锂空白熔片,熔片上通过树脂层复合有标准贴衬织物层。本实用新型结构合理,由偏硼酸锂熔片做衬底,通过树脂层将标准贴衬织物或定量滤纸复合在熔片上。检测液体样品时,与样品杯相比,采用织物样片所需样品量较少并可以在真空条件下检测。利用织物样片建立的工作曲线可用来检测相应织物样品,具有线性好,相关系数高的特点。
申请公布号 CN203191238U 申请公布日期 2013.09.11
申请号 CN201320181363.0 申请日期 2013.04.12
申请人 中华人民共和国南通出入境检验检疫局 发明人 窦怀智;申晓萍;侯晋
分类号 G01N1/28(2006.01)I;G01N23/223(2006.01)I 主分类号 G01N1/28(2006.01)I
代理机构 南通市永通专利事务所 32100 代理人 葛雷
主权项 一种用于X射线荧光光谱分析的织物样片,其特征是:包括偏硼酸锂空白熔片,熔片上通过树脂层复合有标准贴衬织物层。
地址 226018 江苏省南通市崇川区崇川路99号
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