发明名称 光源支承装置及采用该装置的光辐射特性测定装置
摘要 本发明提供光源支承装置及采用该光源支承装置的光辐射特性测定装置。该光源支承装置包括:基座部;第1支承部,其用于将基座部能够绕第1轴旋转地支承;第1臂部和第2臂部,其分别连接于基座部的两端,沿着与第1轴平行的方向延伸;一对第2支承部,其设置在第1臂部和第2臂部的彼此面对的各个位置,用于支承被测定光源。一对第2支承部构成为使所支承的被测定光源能够绕与第1轴垂直的第2轴旋转。第1臂部和第2臂部中的至少一个臂部相对于基座部装卸自如。
申请公布号 CN103292978A 申请公布日期 2013.09.11
申请号 CN201310054909.0 申请日期 2013.02.20
申请人 大塚电子株式会社 发明人 白岩久志;镰田刚史
分类号 G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人 刘新宇;张会华
主权项 一种光源支承装置,其中,包括:基座部;第1支承部,其用于使上述基座部能够绕第1轴旋转地支承上述基座部;第1臂部和第2臂部,其分别连接于上述基座部的两端,沿着与上述第1轴平行的方向延伸;一对第2支承部,其设置在上述第1臂部和第2臂部的彼此面对的各个位置,用于支承被测定光源;一对第2支承部构成为使所支承的被测定光源能够绕与上述第1轴垂直的第2轴旋转;上述第1臂部和第2臂部中的至少一个臂部相对于上述基座部装卸自如。
地址 日本大阪府