发明名称 |
一种光谱分析方法 |
摘要 |
本发明涉及一种光谱分析方法,包括以下步骤:A、建立分析模型:激发标准样品,获得原子光谱信息;从所述光谱信息中选择分析元素的m条特征谱线,m≥2;根据上述m条特征谱线对应的谱线数据及所述分析元素的元素含量/诱导含量,建立分析模型;B、分析未知样品:按照步骤A的方法获得未知样品相应分析元素的谱线数据,并代入上述分析模型,得到未知样品相应分析元素的含量。本发明具有分析模型稳健、分析准确、重现性好等优点。 |
申请公布号 |
CN102103080B |
申请公布日期 |
2013.09.04 |
申请号 |
CN201010622421.X |
申请日期 |
2010.12.31 |
申请人 |
聚光科技(杭州)股份有限公司 |
发明人 |
吴继明;张东明;吕全超 |
分类号 |
G01N21/62(2006.01)I;G01N21/63(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/62(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种光谱分析方法,包括以下步骤: A、建立分析模型 激发标准样品,获得原子光谱信息; 从所述光谱信息中选择分析元素的m条特征谱线,m≥2; 根据上述m条特征谱线对应的谱线数据及所述分析元素的元素含量/诱导含量,建立分析模型;所述分析模型为Yp×1=Xp×t×Ft×1,其中Y为元素含量/诱导含量矩阵,X为谱线数据矩阵,F为系数矩阵,p为样品个数,p≥2,t≥m B、分析未知样品 按照步骤A的方法获得未知样品相应分析元素的谱线数据,并代入上述分析模型,得到未知样品相应分析元素的含量。 |
地址 |
310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号 |