发明名称 一种光谱分析方法
摘要 本发明涉及一种光谱分析方法,包括以下步骤:A、建立分析模型:激发标准样品,获得原子光谱信息;从所述光谱信息中选择分析元素的m条特征谱线,m≥2;根据上述m条特征谱线对应的谱线数据及所述分析元素的元素含量/诱导含量,建立分析模型;B、分析未知样品:按照步骤A的方法获得未知样品相应分析元素的谱线数据,并代入上述分析模型,得到未知样品相应分析元素的含量。本发明具有分析模型稳健、分析准确、重现性好等优点。
申请公布号 CN102103080B 申请公布日期 2013.09.04
申请号 CN201010622421.X 申请日期 2010.12.31
申请人 聚光科技(杭州)股份有限公司 发明人 吴继明;张东明;吕全超
分类号 G01N21/62(2006.01)I;G01N21/63(2006.01)I 主分类号 G01N21/62(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种光谱分析方法,包括以下步骤: A、建立分析模型 激发标准样品,获得原子光谱信息; 从所述光谱信息中选择分析元素的m条特征谱线,m≥2; 根据上述m条特征谱线对应的谱线数据及所述分析元素的元素含量/诱导含量,建立分析模型;所述分析模型为Yp×1=Xp×t×Ft×1,其中Y为元素含量/诱导含量矩阵,X为谱线数据矩阵,F为系数矩阵,p为样品个数,p≥2,t≥m B、分析未知样品 按照步骤A的方法获得未知样品相应分析元素的谱线数据,并代入上述分析模型,得到未知样品相应分析元素的含量。
地址 310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号
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