发明名称 一种忆阻层及忆阻器
摘要 本发明公开了一种忆阻层,包括主要层和辅助层;所述辅助层位于所述主要层的上面;所述主要层的厚度大于辅助层的厚度;所述主要层由具有阻变特性的金属氧化物Ax1Oy1构成;所述辅助层由金属氧化物Bx2Oy2构成;x1、x2、y1、y2为与化学价相关的元素比例。本发明还公开了一种电学特性参数离散性较小的忆阻器。本发明所公开的忆阻层结构简单,性能优越,工艺复杂度低,节约了生产成本。
申请公布号 CN103280526A 申请公布日期 2013.09.04
申请号 CN201310206768.X 申请日期 2013.05.29
申请人 北京大学 发明人 刘力锋;后羿;陈冰;高滨;韩德栋;王漪;康晋锋;张兴
分类号 H01L45/00(2006.01)I 主分类号 H01L45/00(2006.01)I
代理机构 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人 王莹
主权项 一种忆阻层,其特征在于,包括主要层和辅助层;所述辅助层位于所述主要层的上面;所述主要层的厚度大于所述辅助层的厚度;所述主要层由具有阻变特性的金属氧化物Ax1Oy1构成;所述辅助层由金属氧化物Bx2Oy2构成;其中,x1、x2、y1、y2为与化学价相关的元素比例。
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