| 发明名称 | 绝缘被覆导体检查方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种绝缘被覆导体检查方法，用于检查由绝缘被覆导体缠绕形成的线圈(8)中的该绝缘被覆导体的电绝缘特性，将线圈(8)配置于试验容器(10)内，使试验容器(10)内减压，在与线圈(8)之间空出间隙地使电极(21、22)对峙，对电极(21、22)与线圈(8)之间施加交流电压，测定因交流电压的施加在线圈(8)与电极(21、22)之间产生放电的产生频度，在放电的产生频度大于基准产生频度的情况下判定为是电绝缘性优异的合格品，在小于的情况下判定为是电绝缘性存在不良的次品。规定范围优选为放电电荷量为100000(pc)以下的范围。 | ||
| 申请公布号 | CN101910853B | 申请公布日期 | 2013.09.04 |
| 申请号 | CN200980101622.0 | 申请日期 | 2009.04.27 |
| 申请人 | 爱信艾达株式会社 | 发明人 | 木村英明 |
| 分类号 | G01R31/12(2006.01)I;G01R31/06(2006.01)I;G01R31/34(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/12(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 李伟;阎文君 |
| 主权项 | 一种绝缘被覆导体检查方法，用于检查由绝缘被覆导体缠绕而形成且安装于定子铁心上的状态下的线圈中的该绝缘被覆导体的电绝缘特性，其特征在于，将所述线圈配置于试验容器内，使该试验容器内减压，与从所述定子铁心的端部伸出的线圈末端部之间空出间隙地使电极对峙，向该电极与所述线圈之间施加交流电压，测定因交流电压的施加在所述线圈末端部与所述电极之间产生放电的放电电荷量和产生频度，在上述放电电荷量为10000pc以下的放电的产生频度大于基准产生频度的情况下判定为是电绝缘性优异的合格品，在小于的情况下判定为是电绝缘性存在不良的次品。 | ||
| 地址 | 日本爱知县 | ||