发明名称 |
架构层级功率监控优化和风险减轻技术 |
摘要 |
本发明公开了一种用于通过以下操作来自动综合定制集成电路的系统和方法:接收所述定制集成电路的包括计算机可读代码的规格,并且生成所述计算机可读代码的评测数据以确定指令使用情况;自动生成针对所述计算机可读代码独特定制的处理器架构,其中所述处理器架构具有一个或多个处理块以实现一个或多个指令;基于所述计算机可读代码的评测数据来确定指令执行序列,并且重新分配所述指令序列以使操作分散到IC上的不同块从而减少热点;以及将所生成的架构综合为用于半导体制造的所述定制集成电路的计算机可读描述。 |
申请公布号 |
CN103282886A |
申请公布日期 |
2013.09.04 |
申请号 |
CN201180044095.1 |
申请日期 |
2011.07.11 |
申请人 |
艾尔葛托奇普股份有限公司 |
发明人 |
阿南斯·朵巴;皮尔斯·吴;盖瑞·欧布拉克;瑟雷许·凯迪耶拉;萨蒂许·帕德马纳班 |
分类号 |
G06F9/455(2006.01)I |
主分类号 |
G06F9/455(2006.01)I |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
代理人 |
刘新宇 |
主权项 |
一种用于管理定制集成电路设计即定制IC设计中的功率的方法,包括:a.接收定制集成电路的包括计算机可读代码的规格,并且生成所述计算机可读代码的评测数据以确定指令使用情况;b.自动生成针对所述计算机可读代码独特定制的处理器架构,其中所述处理器架构具有在IC上执行一个或多个指令的一个或多个处理块;c.基于所述计算机可读代码的评测数据来确定指令执行序列,并且重新分配或延迟所述指令序列以使操作或活动分散到处理块从而减少热点;以及d.将所生成的架构综合为半导体制造所用的所述定制集成电路的计算机可读描述。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |