发明名称 | 芯片测试仪测试头 | ||
摘要 | 外观设计产品名称:芯片测试仪测试头。外观设计产品用途:本外观设计是芯片测试仪测试头,用于在芯片测试仪的控制下读取芯片信息。设计要点:1.主视图,突起的按键。2.芯片测试仪测试头的整体形状。最能表明设计要点的图片:设计1立体图。以设计1作为基本设计。 | ||
申请公布号 | CN302559073S | 申请公布日期 | 2013.09.04 |
申请号 | CN201330107323.7 | 申请日期 | 2013.03.29 |
申请人 | 珠海艾派克微电子有限公司 | 发明人 | 祁美超;赖榴新 |
分类号 | 10-07 | 主分类号 | 10-07 |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | |||
地址 | 519000 广东省珠海市前山明珠北路63号04栋7层 |