发明名称 芯片测试仪测试头
摘要 外观设计产品名称:芯片测试仪测试头。外观设计产品用途:本外观设计是芯片测试仪测试头,用于在芯片测试仪的控制下读取芯片信息。设计要点:1.主视图,突起的按键。2.芯片测试仪测试头的整体形状。最能表明设计要点的图片:设计1立体图。以设计1作为基本设计。
申请公布号 CN302559073S 申请公布日期 2013.09.04
申请号 CN201330107323.7 申请日期 2013.03.29
申请人 珠海艾派克微电子有限公司 发明人 祁美超;赖榴新
分类号 10-07 主分类号 10-07
代理机构 代理人
主权项
地址 519000 广东省珠海市前山明珠北路63号04栋7层