发明名称 一种射线检测用的曝光曲线制作方法
摘要 本发明公开了一种射线检测用的曝光曲线制作方法,其按以下步骤进行:1)在阶梯试块放置胶片和射线剂量仪;2)曝光;3)将上述曝光后的胶片清洗、晾干,用黑度计测量底片的黑度值,并读取与之对应的累积剂量,得到一组黑度值,然后找到一个基准黑度对应的累计计量值H;4)对某厚度待测试块在不同透照条件下进行透照,当看到累计计量值为H时停止透照,记录此时的曝光量;5)多次重复步骤4)得到多组不同透照条件下的曝光量;6)根据透照的某厚度待测试块的厚度、黑度值、透照条件即可做出曝光曲线。本发明方法基于黑度和曝光量的相对应关系,仅需冲洗一次胶片,即可作出曝光曲线,能节约大量的胶片,并且操作省时省力。
申请公布号 CN103279007A 申请公布日期 2013.09.04
申请号 CN201310097057.3 申请日期 2013.03.25
申请人 国家电网公司;河北省电力公司电力科学研究院;河北省电力建设调整试验所 发明人 刘长福;牛晓光;郝晓军;赵继峰
分类号 G03B42/02(2006.01)I;G03C5/02(2006.01)I;G01N23/00(2006.01)I 主分类号 G03B42/02(2006.01)I
代理机构 石家庄新世纪专利商标事务所有限公司 13100 代理人 杨钦祥
主权项 一种射线检测用的曝光曲线制作方法,其特征在于:1)在阶梯试块(1)每个台阶(2)下面分别放置胶片(3)和射线剂量仪(4),射线计量仪(4)的累计数据清零,将增感屏放置于胶片(3)的下方,将像质计放置在射源侧的阶梯试块(1)上;2 )曝光:在射源、胶片、增感屏、暗室处理条件保持不变的情况下,固定曝光量对上述阶梯试块(1)进行透照;3)将上述曝光后的胶片清洗、晾干,得到底片,用黑度计测量阶梯试块(1)不同厚度的台阶(2)下面的底片的黑度值,并读取与之对应的射线计量仪(4)的累积剂量,得到一组黑度值,然后找到一个基准黑度对应的累计计量值H;4)对某厚度待测试块在不同透照条件下进行透照:去掉步骤1)当中的胶片,改变透照条件管电压,并按上述步骤1)的方法对某厚度待测试块进行透照,当看到累计计量值为H时停止透照,记录此时的曝光量;5)多次重复步骤4)得到多组不同透照条件下的曝光量; 6)根据透照的某厚度待测试块的厚度、黑度值、透照条件即可做出曝光曲线。
地址 100031 北京市西城区西长安街86号
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