发明名称 化学气相沉积制程
摘要 本发明提供一种化学气相沉积制程,特别的是,以10~120的氢气稀释比、10~40mtorr的沉积过程压力,及射频功率为150~1200W,于一温度控制在25~250℃的基材上沉积成长一含有微晶矽之非晶矽薄膜,可大幅改善含有微晶矽之非晶矽薄膜的沉积速率,制作具有多能阶的高效率矽基薄膜太阳能电池。
申请公布号 TWI407578 申请公布日期 2013.09.01
申请号 TW098146343 申请日期 2009.12.31
申请人 财团法人金属工业研究发展中心 高雄市楠梓区高楠公路1001号 发明人 翁敏航;吴春森
分类号 H01L31/18;C23C16/455;H01L31/042 主分类号 H01L31/18
代理机构 代理人 高玉骏 台北市松山区南京东路3段248号7楼;杨祺雄 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项
地址 高雄市楠梓区高楠公路1001号