电子元件测试装置

摘要

电子元件测试装置包括：测试部，系保持IC组件之肋(93)将IC组件保持于按照和订制托盘(8A)之收容部实质上相同的排列配置的盖托盘(9)之状态，将IC组件压在测试头(7)的插座(70)，并令IC组件之输出入端子(HB)以电气式接触插座(70)的接触端子(71)；及搬运装置，系将用以保持IC组件之盖托盘(9)搬至测试部。