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发明名称 ANTI FUSE CIRCUIT IN SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF TESTING INTERNAL CIRCUIT BLOCKS THEREFOR
摘要
申请公布号 KR20130096493(A) 申请公布日期 2013.08.30
申请号 KR20120017990 申请日期 2012.02.22
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 CHOI, AHN;CHOI, KYUNG RAK
分类号 G11C29/04;G01R31/28 主分类号 G11C29/04
代理机构 代理人
主权项
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