芯片快测机

摘要

本实用新型涉及芯片检测技术领域，特指一种芯片快测机，包括测试仪和机架，机架上设置具有一定倾斜角度的转盘和竖立的显示仪表，转盘边缘设置有采集测试信号的测试针、带动测试针上下移动的升降机构、径向等距分布的凹槽及与测试针连动的气动装置，测试针和测试仪通过信号传输线连接，测试仪与显示仪表、气动装置分别通过另一条信号传输线连接；测试针将测试信号单向地输入测试仪，测试仪对电信号进行识别判断后，测试仪将“合格”或者“不合格”的指令信号单向发送给显示仪表和气动装置，气动装置根据相应指令执行动作，将芯片分类吹送到相应的容置槽中。本实用新型解决了测试信号的冲突问题，大大降低了死机频率，提高了测试准确率和测试效率。

主权项

芯片快测机，包括测试仪和机架，机架（1）上设置具有一定倾斜角度的转盘（2）和竖立的显示仪表（3），转盘（2）边缘设置有采集测试信号的测试针（4）、带动测试针（4）上下移动的升降机构、径向等距分布的凹槽及对应于测试信号的气动装置，其特征在于：测试针（4）和测试仪通过信号传输线连接，测试仪与显示仪表（3）、气动装置分别通过另一条信号传输线连接；测试针（4）将测试信号单向地输入测试仪，测试仪对电信号进行识别判断，随后，测试仪将“合格”或者“不合格”的指令信号单向发送给显示仪表（3）和气动装置，气动装置根据相应指令执行动作。