发明名称 |
8晶体管型低漏电静态随机存取内存单元 |
摘要 |
本发明揭露一种静态随机存取内存(static random access memory,SRAM)单元,包含一对交错耦合反向器,含有第一储存节点,以及第一N型金属氧化物半导体晶体管,含有栅极,第一与第二源/漏极,分别与第一储存节点,读入字符线(read word-line,RWL)以及第一读入位线(read bit-line,RBL)相连,读入字符线以及第一读入位线在进行读取动作时被启动,而在进行写入动作时不被启动。 |
申请公布号 |
CN101740116B |
申请公布日期 |
2013.08.28 |
申请号 |
CN200910140788.5 |
申请日期 |
2009.05.15 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
吴瑞仁;陈炎辉;周绍禹;廖宏仁 |
分类号 |
G11C11/412(2006.01)I;G11C11/419(2006.01)I |
主分类号 |
G11C11/412(2006.01)I |
代理机构 |
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 |
代理人 |
陈红 |
主权项 |
一种静态随机存取内存单元,其特征在于,包含:一对交错耦合反向器,含有一第一储存节点及一第二储存节点,其中该第一储存节点及一第二储存节点为互补;一第一N型金属氧化物半导体晶体管,含有一栅极,一第一漏极与一第二源极,其中该第一N型金属氧化物半导体晶体管的该栅极与该第一储存节点相连,该第一漏极与一读入字符线相连,以及该第二源极与一第一读入位线相连;一第二N型金属氧化物半导体晶体管,含有一栅极,一第三漏极与一第四源极,其中该第二N型金属氧化物半导体晶体管的该栅极与该第二储存节点相连,该第三漏极与该读入字符线相连,以及该第四源极与一第二读入位线相连;一第三N型金属氧化物半导体晶体管,含有一栅极,一第五源/漏极与一第六源/漏极,其中该第三N型金属氧化物半导体晶体管的该栅极与一写入字符线相连,该第五源/漏极与该第一储存节点相连,以及该第六源/漏极与一第一写入位线相连;一第四N型金属氧化物半导体晶体管,含有一栅极,一第七源/漏极与一第八源/漏极,其中该第四N型金属氧化物半导体晶体管的该栅极与该写入字符线相连,该第七源/漏极与该第二储存节点相连,以及该第八源/漏极与一第二写入位线相连;以及一第一写入选择电路,该第一写入选择电路含有一电压供应点,一输入以及一输出,其中该电压供应点与一第一选择线相连,该输入与一第二选择线相连,以及该输出与该写入字符线相连;其中该读入字符线,该第一读入位线以及该第二读入位线在进行一读取动作时被启动,而在进行任一写入动作时不被启动,且该第一读入位线以及该第二读入位线被同步地启动。 |
地址 |
中国台湾新竹市新竹科学工业园区力行六路八号 |