发明名称 基于数字图像相关的塑性多缺陷材料M积分测量方法
摘要 本发明公开了一种基于数字图像相关的塑性多缺陷材料M积分测量方法,利用M积分的直接定义,其积分项中的位移场通过数字散斑相关技术测得;应变及位移梯度场利用三次样条拟合获得;塑性材料表面应力场通过Ramberg-Osgood本构方程计算求得;弹塑性应变能密度分布则由非线性的应力-应变曲线数值积分获得。选取包含所有缺陷的任意闭合路径,通过数值积分计算M积分值。该方法主要针对于塑性材料,适用于各种不同的缺陷及缺陷群在塑性变形时的M积分测量,可用于表征塑性材料损伤及结构完整性评估。
申请公布号 CN102564856B 申请公布日期 2013.08.28
申请号 CN201210004080.9 申请日期 2012.01.09
申请人 西安交通大学 发明人 于宁宇;陈宜亨;李群
分类号 G01N3/08(2006.01)I;G01N3/02(2006.01)I 主分类号 G01N3/08(2006.01)I
代理机构 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人 朱海临
主权项 1.一种基于数字图像相关的塑性多缺陷材料M积分测量方法,其特征在于,包括下述步骤: (1)制备拉伸试验标准试件,对该试件进行单向拉伸,得到试件材料的非线性应变-应力曲线,引入Ramberg-Osgood塑性本构:ε/ε<sub>0</sub>=σ/σ<sub>0</sub>+α(σ/σ<sub>0</sub>)<sup>n</sup>,利用最小二乘法拟合所述的应变-应力曲线,得到试件的各个材料常数:弹性模量E、泊松比ν、屈服应变ε<sub>0</sub>、屈服应力σ<sub>0</sub>、硬化系数α及硬化指数n; (2)针对存在缺陷的同一材料另一试件,使用三维白光散斑应变测量设备,测量其在整个加载过程中试件表面的位移场u<sub>x</sub>和u<sub>y</sub>;采样并记录每个载荷步下的试件表面的位移场u<sub>x</sub>和u<sub>y</sub>; (3)利用均值滤波器方法对步骤(2)得到的每个载荷步下含有噪声的位移场进行平滑处理,将平滑处理后的位移场在两坐标轴方向进行三次样条曲线拟合,得到位移场沿两坐标轴方向的位移梯度:<img file="FDA00003142029400013.GIF" wi="189" he="74" /><img file="FDA00003142029400014.GIF" wi="185" he="81" /><img file="FDA00003142029400015.GIF" wi="168" he="82" />和<img file="FDA00003142029400016.GIF" wi="180" he="81" />以及应变场ε<sub>x</sub>、ε<sub>y</sub>、ε<sub>xy</sub>;(4)利用步骤(3)得到的应变场ε<sub>x</sub>、ε<sub>y</sub>、ε<sub>xy</sub>及步骤(1)得到的各个材料常数,通过Ramberg-Osgood本构方程组: <img file="FDA00003142029400017.GIF" wi="1387" he="86" /><img file="FDA00003142029400018.GIF" wi="1573" he="86" /><img file="FDA00003142029400019.GIF" wi="994" he="83" />求解应力场σ<sub>x</sub>、σ<sub>y</sub>、σ<sub>xy</sub>,其中<img file="FDA00003142029400011.GIF" wi="696" he="104" />为Mises等效应力;(5)重复步骤(3)和(4),得到整个拉伸过程该试件表面任意点的应力-应变关系曲线,将该关系曲线的散点序列带入<img file="FDA00003142029400012.GIF" wi="274" he="110" />进行数值积分,得到当前载荷步下的应变能密度w;(6)选取围绕步骤(2)试件所有缺陷的任意闭合积分路径,利用M积分定义式:<img file="3.GIF" wi="606" he="114" />通过步骤(3)~(5)得到的该路径上一系列离散点的各个应力、应变、位移梯度及应变能密度,采用数值积分计算M积分值;式中:w,σ<sub>kj</sub>,n<sub>i</sub>分别为材料应变能密度、应力、围绕缺陷闭合积分路径C的外法向矢量;x<sub>i</sub>为积分路径上点的坐标;u<sub>k,i</sub>为位移对相关坐标x<sub>i</sub>的偏微分。
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