发明名称 一种集成开关电流电路故障模式测试方法
摘要 本发明公开了一种集成开关电流电路的故障模式测试方法,其步骤包括:S1:建立开关电流测试电路,并对测试电路施加激励信号;S2:定义开关电流电路故障模式;S3:采集开关电流电路的可测试节点时域响应信号;S4:预处理时域响应数据,计算信号的故障特征参数,提取信号的信息熵和峭度,计算信息熵的模糊集;S5:根据信息熵和峭度,构造神经网络分类器,获取开关电流测试电路的故障模式。本发明公开的一种集成开关电流电路的故障模式测试方法,适用于具有大量故障类别的大规模复杂集成开关电流电路的测试,且故障诊断准确率高。
申请公布号 CN103267941A 申请公布日期 2013.08.28
申请号 CN201310164466.0 申请日期 2013.05.07
申请人 长沙学院 发明人 龙英;张镇;何怡刚;王江涛;童耀南
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人 王莹
主权项 一种集成开关电流电路的故障模式测试方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:建立开关电流测试电路,并对测试电路施加激励信号;S2:定义开关电流电路故障模式;S3:采集开关电流电路的可测试节点时域响应信号;S4:预处理时域响应数据,计算信号的故障特征参数,提取信号的信息熵和峭度,计算信息熵的模糊集;S5:根据信息熵和峭度,构造神经网络分类器,获取开关电流测试电路的故障模式,具体步骤包括:S51:构造神经网络训练样本集,分别构造该电路的软故障和硬故障样本集,包括故障模式、输入向量和输出向量,所述输入向量为信息熵和峭度,所述输出向量为“N-1”表示法的输出结果:0表示正常状态、1表示故障状态;S52:采用经典的三层BP神经网络,构造神经网络结构,其结构如下:诊断低通滤波器的软故障,所述神经网络结构的输入层神经元为熵和峭度值,神经元数目为2个;输出层神经元为电路的故障模式,神经元数目23个;隐层神经元数目选取9个;诊断低通滤波器的硬故障,所述神经网络结构的输入层神经元为熵和峭度值,神经元数目为2个;输出层神经元为电路的故障模式,神经元数目13个;隐层神经元数目选取7个。
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