发明名称 |
一种粉体材料电导率与膜电极阻抗的测试装置 |
摘要 |
本实用新型一种粉体材料电导率与膜电极阻抗的测试装置,可满足两种测量模式。对于粉体材料电导率测量模式:将制备的粉体压块被测样置于被测样小室,组装模具进行测试,分别获得粉体的电子阻抗和总阻抗,结合阻抗并联公式获得质子阻抗,计算获得电子、质子电导率,总电导率;对于膜电极阻抗测量模式,将制备的膜电极被测样置于被测样小室,组装模具进行测试,获得膜电极的阻抗。本测试装置配有控温套管和加湿管道,可测试不同温度以及湿度下的粉体材料电导率及膜电极阻抗。设备简单,易于操作,测量结果精确;适合混合荷电粉体材料的电导率测试以及在模拟PEM水电解池环境中进行膜电极阻抗测试,凸显了本装置的可行性、必要性以及重要性。 |
申请公布号 |
CN203164294U |
申请公布日期 |
2013.08.28 |
申请号 |
CN201320082844.6 |
申请日期 |
2013.02.22 |
申请人 |
北京科技大学 |
发明人 |
王新东;刘高阳;许军元;刘桂成;蒋钜明;王一拓;彭冰霜 |
分类号 |
G01R27/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R27/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 |
代理人 |
皋吉甫 |
主权项 |
一种粉体材料电导率与膜电极阻抗的测试装置,其特征在于,该装置包括上压杆(1)、上紧固螺杆(3)、控温套管(4)、底座(10)和下紧固螺杆(11);所述上压杆(1)的上端一侧设有上接线柱(2),所述上压杆(1)的下端插入所述控温套管(4)内,所述上压杆(1)与所述控温套管(4)通过所述上紧固螺杆(3)固定,所述上压杆(1)与所述控温套管(4)接触部分设置起到绝缘作用的聚四氟乙烯套管(5);所述下端底座(10)的一侧设有下接线柱(9),所述下端底座(10)与所述控温套管(4)通过所述下紧固螺杆(11)固定;所述上压杆(1)上设有用于水蒸气的进出管道的上加湿通道(6),所述下端底座(10)上设有用于水蒸气的进出管道的下加湿通道(8)。 |
地址 |
100083 北京市海淀区学院路30号 |