| 摘要 |
本发明提供一种记忆体的测试装置以及测试方法，抑制因更新的次数不足所导致的数据破坏。更新控制电路10接收插入信号REFTEND，该插入信号REFTEND要求每一规定时序被确认的DRAM(Dynamic Random Access Memory，动态随机存取记忆体)200的更新。更新控制电路10计数插入信号REFTEND被确认的次数，并在DRAM200从外部可存取的空闲状态下，确认：所计数的次数以及用于使DRAM200更新的插入子程式开始信号IJMP。更新电路4在确认插入子程式开始信号IJMP时，执行规定的插入子程式，并将更新图案供给到DRAM200。 |
