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发明名称
薄膜形成方法及半导体制程用装置
摘要
本发明系关于一种用于半导体制程之薄膜形成方法,其包括将复数个目标物体间隔着在垂直方向上放置于薄膜形成装置之制程容器内部。然后,该方法包括设定该制程容器以使其中处于第一真空状态,并将包含烃气体之第一薄膜形成气体供应至该制程容器,由此藉由CVD在该等目标物体上形成碳薄膜。接着,该方法包括设定该制程容器以使其中处于第二真空状态,同时维持该制程容器以使其中处于不同于该第一真空状态之真空状态,并将含有机矽源气体之第二薄膜形成气体供应至该制程容器中,由此藉由CVD在该碳薄膜上形成含Si无机薄膜。
申请公布号
TWI405864
申请公布日期
2013.08.21
申请号
TW097125762
申请日期
2008.07.08
申请人
东京威力科创股份有限公司 日本
发明人
冈田充弘;久保万身
分类号
C23C16/26;H01L21/027;H01L21/205;H01L21/3065
主分类号
C23C16/26
代理机构
代理人
陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址
日本
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