一种字元线缺陷之侦测装置与方法

摘要

侦测字元线缺陷之方法包含启动一第一字元线以读取一预先储存于该记忆单元之第一资料、以一预定时间，使该第一字元线处于悬浮状态，然后写入与该第一资料互补之一第二资料至该记忆单元、再度启动该第一字元线，以从该记忆单元读取一第三资料，以及比较该第二资料与该第三资料以判断该第一字元线与一第二字元线之间是否存在一电性连接路径。