发明名称 碳化硅单晶的制造方法
摘要 一种方法,其可以通过使用以Si合金的熔体为溶剂的SiC溶液的液相生长技术来稳定地制造适于各种器件使用的、载流子密度为5×1017/cm3以下、优选为小于1×1017/cm3的低载流子密度的SiC单晶薄膜或块状晶体,该方法使用具有如下组成的合金作为Si合金:以SixCryTiz表示,且x、y和z(分别为原子%)满足(1)0.50<x<0.68、0.08<y<0.35以及0.08<z<0.35、或(2)0.40<x≤0.50、0.15<y<0.40以及0.15<z<0.35。x、y和z优选满足0.53<x<0.65、0.1<y<0.3以及0.1<z<0.3。
申请公布号 CN102203330B 申请公布日期 2013.08.21
申请号 CN200980143619.5 申请日期 2009.08.28
申请人 新日铁住金株式会社 发明人 龟井一人;楠一彦;矢代将齐;八内昭博;下崎新二
分类号 C30B29/36(2006.01)I;C30B19/04(2006.01)I 主分类号 C30B29/36(2006.01)I
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人 刘新宇;李茂家
主权项 一种SiC单晶的制造方法,其特征在于,该SiC单晶的制造方法在由Si合金的熔体形成的溶剂中溶解C而成的SiC溶液中浸渍晶种,并使至少晶种附近的溶液通过过冷而处于过饱和状态,从而使SiC单晶在晶种上生长,所述Si合金是具有如下组成的合金:以SixCryTiz表示,且分别为原子%的x、y和z满足(1)0.50<x<0.68、0.08<y<0.35以及0.08<z<0.35、或(2)0.40<x≤0.50、0.15<y<0.40以及0.15<z<0.35。
地址 日本东京都