发明名称 |
碳化硅单晶的制造方法 |
摘要 |
一种方法,其可以通过使用以Si合金的熔体为溶剂的SiC溶液的液相生长技术来稳定地制造适于各种器件使用的、载流子密度为5×1017/cm3以下、优选为小于1×1017/cm3的低载流子密度的SiC单晶薄膜或块状晶体,该方法使用具有如下组成的合金作为Si合金:以SixCryTiz表示,且x、y和z(分别为原子%)满足(1)0.50<x<0.68、0.08<y<0.35以及0.08<z<0.35、或(2)0.40<x≤0.50、0.15<y<0.40以及0.15<z<0.35。x、y和z优选满足0.53<x<0.65、0.1<y<0.3以及0.1<z<0.3。 |
申请公布号 |
CN102203330B |
申请公布日期 |
2013.08.21 |
申请号 |
CN200980143619.5 |
申请日期 |
2009.08.28 |
申请人 |
新日铁住金株式会社 |
发明人 |
龟井一人;楠一彦;矢代将齐;八内昭博;下崎新二 |
分类号 |
C30B29/36(2006.01)I;C30B19/04(2006.01)I |
主分类号 |
C30B29/36(2006.01)I |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
代理人 |
刘新宇;李茂家 |
主权项 |
一种SiC单晶的制造方法,其特征在于,该SiC单晶的制造方法在由Si合金的熔体形成的溶剂中溶解C而成的SiC溶液中浸渍晶种,并使至少晶种附近的溶液通过过冷而处于过饱和状态,从而使SiC单晶在晶种上生长,所述Si合金是具有如下组成的合金:以SixCryTiz表示,且分别为原子%的x、y和z满足(1)0.50<x<0.68、0.08<y<0.35以及0.08<z<0.35、或(2)0.40<x≤0.50、0.15<y<0.40以及0.15<z<0.35。 |
地址 |
日本东京都 |