发明名称 自动分析装置
摘要 提供一种自动分析装置,其不会导致装置的大型化以及复杂化,能够对由装置内部的温度变动引起的光学系统的热变形所导致的光量数据的变动进行修正,能够实现测定对象物质的高灵敏度的检测。来自测定对象物质的散射光通过受光窗(43),由以光轴为中心而在垂直方向上等角度或等间隔地对称配置的+θ散射光用探测器(45a)以及-θ散射光用探测器(45b)受光。光源(40)由光源支架(配置光源的基座部件)(46)固定,探测器(45a、45b)配置固定在探测器支架(配置各探测器的基座部件)(47)上。由此,通过比较来自各探测器(45a、45b)的光量数据的值,能够修正光学系统的热变形引起的光量数据的偏移。
申请公布号 CN103261876A 申请公布日期 2013.08.21
申请号 CN201280004143.9 申请日期 2012.01.10
申请人 株式会社日立高新技术 发明人 牧野彰久;足立作一郎
分类号 G01N21/47(2006.01)I;G01N35/02(2006.01)I 主分类号 G01N21/47(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 洪秀川
主权项 一种自动分析装置,其具备:向配置在测光位置并且收容试料与试药的混合液的反应容器照射光的光源;以及对来自所述混合液的散射光或透过光进行检测的探测器,其特征在于,以来自所述光源的照射光的光轴为中心而等角度或等间隔地对称配置有1组以上的所述探测器,在所述混合液内的测定对象物质浓度的算出中,使用使来自各探测器的光量数据平均化后的值及/或和。
地址 日本东京都