发明名称 ArF激光光学薄膜元件综合偏振测量装置及测量方法
摘要 本发明涉及一种ArF激光光学薄膜元件综合偏振测量装置,该装置的ArF准分子激光器、ArF准分子激光扩束准直装置、可变光阑、起偏器、分束器、样品台沿主光轴顺序放置;参比光偏振探测装置位于分束器的反射光路上,样品台位于分束器的透射光路上;透射光偏振测量装置固定安装在第一可旋转支撑臂上,反射光偏振探测装置固定安装在第二可旋转支撑臂上;样品台、第一可旋转支撑臂和第二可旋转支撑臂位于同一平面内并具有同一旋转中心,且该旋转中心位于主光轴上。本发明可以同时测量不同形状的光学薄膜元件在不同入射角时的偏振反射率、透射率、反射退偏度和透射退偏度,从而最大限度满足各种ArF激光光学薄膜元件偏振性能评价的需要。
申请公布号 CN102435418B 申请公布日期 2013.08.21
申请号 CN201110272811.3 申请日期 2011.09.15
申请人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明人 邓文渊;金春水;靳京城
分类号 G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人 王淑秋
主权项 一种ArF激光光学薄膜元件综合偏振测量装置,其特征在于包括ArF准分子激光器(23)、ArF准分子激光扩束准直装置(5)、可变光阑(6)、起偏器(7)、分束器(8)、样品台(22)、193nm参比光偏振探测装置(9)、193nm透射光偏振测量装置(11)、193nm反射光偏振探测装置(12);ArF准分子激光器(23)发出的光束经ArF准分子激光扩束准直装置(5)扩束准直后照射到可变光阑(6),再由可变光阑(6)调节光斑大小,然后由起偏器(7)转变为偏振光后入射到分束器(8);193nm参比光偏振探测装置(9)位于分束器(8)的反射光路上,样品台(22)位于分束器(8)的透射光路上;193nm透射光偏振测量装置(11)固定安装在第一可旋转支撑臂(24)上,193nm反射光偏振探测装置(12)固定安装在第二可旋转支撑臂(25)上;样品台(22)、第一可旋转支撑臂(24)和第二可旋转支撑臂(25)位于同一平面内并具有同一旋转中心,且该旋转中心位于主光轴上;所述ArF激光扩束准直装置(5)和可变光阑(6)安装在第一矩形真空腔体(1)底板上;起偏器(7)和分束器(8)安装在第二矩形真空腔体(2)底板上;193nm参比光偏振探测装置(9)安装在第三矩形真空腔体(3)底板上;193nm透射光偏振测量装置(11)、样品台(22)、193nm反射光偏振探测装置(12)安装在第四矩形真空腔体(4)内部;第一矩形真空腔体(1)沿主光轴方向前后相对开有两个开口;第二矩形真空腔体(2)沿主光轴方向前后相对开有两个开口,在分束器(8)反射光路方向有一个开口;第三矩形真空腔体(3)在分束器(8)反射光路方向有一个开口;第四矩形真空腔体(4)在主光轴方向有一个前开口;各矩形真空腔体之间采用圆形管路连接;第一矩形真空腔体(1)的前开口用窗片密封,并且该开口的边上安装通入N2气的连接管路;所述第四矩形真空腔体(4)上部的密封板上有一个开口,利用一个带有密封胶圈的盖子进行密封。
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