一种高碳钢盘条奥氏体晶粒尺寸测量方法

摘要

本发明公开了一种高碳钢盘条奥氏体晶粒尺寸测量方法，该方法包括以下步骤：首先取一段盘条并在垂直于盘条长度方向横切数道缺口，然后将盘条放至加热炉中加热使之完全奥氏体化，加热温度一般为860℃～1300℃，随后将盘条迅速放至冷水中进行淬火处理，最后将淬火后的样品沿缺口打断，使用扫描电镜对断口进行拍照，断口为沿晶开裂断口，使用扫描电镜直接观察断口上晶粒的立体形貌，测量晶粒尺寸。本发明方法制样简单，无需腐蚀，成功率高，可以准确测定高碳钢盘条奥氏体晶粒的尺寸。

主权项

一种高碳钢盘条奥氏体晶粒尺寸测量方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：（1）试样制备：取一段长10～30cm盘条，沿垂直于盘条长度方向横切至少1道缺口；然后将盘条放入加热炉加热至860℃～1300℃，保温5～120分钟，使之完全奥氏体化，随后将盘条放入冷水中淬火，干燥之后将缺口试样沿缺口处打断；（2）晶粒尺寸测量：使用扫描电镜对断口进行拍照，沿晶界直接测量晶粒的尺寸。