发明名称 |
电子设备的密封用层叠片和使用其的电子设备的制造方法 |
摘要 |
本发明涉及电子设备的密封用层叠片,是将第1片和第2片5层叠的电子设备的密封用层叠片,第1片包含酸改性聚烯烃系热塑性树脂,第2片5具有比第1片高的熔点,第2片5相对于第1片的25℃的剥离强度为0.5~10.0[N/15mm]。根据本发明,能够改善电子设备的制造收率。 |
申请公布号 |
CN102047498B |
申请公布日期 |
2013.08.21 |
申请号 |
CN201080001747.9 |
申请日期 |
2010.02.04 |
申请人 |
株式会社藤仓 |
发明人 |
土井克浩;冈田显一;臼井弘纪 |
分类号 |
H01M14/00(2006.01)I;C09J7/02(2006.01)I;H01L31/04(2006.01)I;H01L51/50(2006.01)I;H01M2/08(2006.01)I;H05B33/04(2006.01)I |
主分类号 |
H01M14/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
苗堃;金世煜 |
主权项 |
一种电子设备的制造方法,其特征在于,包含:准备第1基材和第2基材的准备工序,在所述第1基材和所述第2基材的至少一方基材,使用电子设备的密封用层叠片固定环状的密封部的密封部固定工序,在所述密封部的内侧形成被密封部的被密封部形成工序,和用所述密封部、所述第1基材和所述第2基材密封所述被密封部的密封工序;所述电子设备的密封用层叠片是第1片和第2片层叠而成的,所述第1片包含酸改性聚烯烃系热塑性树脂,所述第2片具有比所述第1片高的熔点,所述第2片相对于所述第1片的25℃的剥离强度为0.5~10.0[N/15mm];所述密封部固定工序包含:将所述电子设备的密封用层叠片中的所述第1片进行加工制成所述环状的密封部,得到加工层叠片的工序,在所述第1基材和所述第2基材的至少一方基材,配置所述加工层叠片以使所述环状的密封部与所述基材接触的工序,介由所述第2片将所述环状的密封部加热而使其熔融的工序,和从所述密封部将所述第2片剥离的工序。 |
地址 |
日本东京都 |