发明名称 |
用于测量对象的距离和/或强度特性的设备和方法 |
摘要 |
一种用于测量一个或多个对象的强度和/或距离特性的设备,包括:信号源,其以一个或多个频率发射调制信号;照明器,其通过第一调制信号照亮一个或多个对象;传感器,其包括一个或多个像素,其中,该传感器通过对反向散射信号与像素内的第二调制信号的相关性进行采样而形成采样相关信号;和处理器,其用来通过使用一个或多个测量比较采样相关信号来确定在一个或多个像素内的分量返回的距离/强度特性,其中,一个或多个测量包括具有选自以下一个或多个特性的第一和第二调制信号:(a)两个或更多个不同的调制频率,(b)一个或多个不同的调制频率和相关波形的偏移,和(c)一个或多个另一个不同的调制频率以及选自信号返回的零空间频率与距离的关系和信号返回的零空间频率的逼近与距离的关系中的一个。 |
申请公布号 |
CN103261912A |
申请公布日期 |
2013.08.21 |
申请号 |
CN201180046990.7 |
申请日期 |
2011.07.29 |
申请人 |
威凯托陵科有限公司 |
发明人 |
J·P·高德巴茨;A·A·多林顿;M·J·克里 |
分类号 |
G01S17/89(2006.01)I;G01S17/10(2006.01)I |
主分类号 |
G01S17/89(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
茅翊忞 |
主权项 |
一种用于测量至少一个对象的强度和距离特性中的至少一个的设备,包括:信号源,所述信号源可操作地以一个或多个频率发射至少第一和第二调制信号;照明器,所述照明器可操作地通过所述第一调制信号照亮所述至少一个对象,其中,所述第一调制信号从所述至少一个对象反向散射以形成第一反向散射信号;传感器,所述传感器包括至少一个像素,其中所述传感器可操作地通过对所述第一反向散射信号与在所述至少一个像素内的所述第二调制信号的相关性进行采样来形成采样的相关信号;以及处理器,所述处理器可操作地通过使用一个或多个测量比较采样的相关信号来确定在所述至少一个像素内的一个或多个分量返回的距离和强度特性中的至少一个,其中所述一个或多个测量包括具有选自以下组群构成的一个或多个特性的第一和第二调制信号:(a)两个或更多个调制频率,(b)第一一个或多个不同的调制频率和相关波形的偏移,和(c)第二一个或多个不同的调制频率以及选自信号返回的零空间频率与距离的关系和所述信号返回的零空间频率的逼近与距离的关系构成的组群中的一个。 |
地址 |
新西兰汉密尔顿 |