发明名称 同频周期信号相位差的测量方法
摘要 本发明公开了一种同频周期信号相位差的测量方法,其包括以下步骤:S1,等间隔同步采样两个被测同频周期信号的W个采样数据;S2,获取两个被测同频周期信号的m<sub>1</sub>、m<sub>2</sub>次谐波的谐幅值A<sub>1k</sub>、A<sub>2k</sub>和谐相角<img file="DDA00003151749700011.GIF" wi="224" he="48" />S3,根据谐幅值A<sub>1k</sub>、A<sub>2k</sub>和谐相角<img file="DDA00003151749700012.GIF" wi="212" he="66" />计算两个被测同频周期信号的初相角<img file="DDA00003151749700013.GIF" wi="82" he="63" />和<img file="DDA00003151749700014.GIF" wi="98" he="56" />S4,根据两个初相角之差<img file="DDA00003151749700015.GIF" wi="294" he="64" />计算相位差<img file="DDA00003151749700016.GIF" wi="138" he="67" />本发明获得高精度的相位差测量结果,从而提高基于相位差技术的电力设备状态监测、信号采集与分析、通信、自动控制等领域仪器设备的质量。
申请公布号 CN103257273A 申请公布日期 2013.08.21
申请号 CN201310166125.7 申请日期 2013.05.07
申请人 江苏理工学院 发明人 傅中君;周根元
分类号 G01R25/00(2006.01)I 主分类号 G01R25/00(2006.01)I
代理机构 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人 张建纲
主权项 1.一种同频周期信号相位差的测量方法,其特征在于,其包括以下步骤:S1,等间隔同步采样两个被测同频周期信号的W个采样数据;S2,对上述W个采样数据采用谐波分析方法获取一个被测信号的m<sub>1</sub>次谐波幅值A<sub>1k</sub>和初相角<img file="FDA00003151749400011.GIF" wi="110" he="68" />k=1,…,m<sub>1</sub>;同时,获取另一个被测信号的m<sub>2</sub>次谐波幅值A<sub>2k</sub>和初相角<img file="FDA00003151749400012.GIF" wi="122" he="70" />k=1,…,m<sub>2</sub>;S3,根据谐幅值A<sub>1k</sub>、A<sub>2k</sub>和谐相角<img file="FDA00003151749400013.GIF" wi="208" he="70" />计算两个被测同频周期信号的初相角<img file="FDA00003151749400014.GIF" wi="81" he="64" />和<img file="FDA00003151749400015.GIF" wi="96" he="58" />S4,根据两个初相角之差<img file="FDA00003151749400016.GIF" wi="290" he="69" />计算相位差<img file="FDA00003151749400017.GIF" wi="143" he="72" />
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