发明名称 |
模式识别方法、参数学方法和设备 |
摘要 |
本发明提供一种模式识别方法、参数学方法和设备。在通过依次执行多个分类处理的组合将输入数据分类为预定类的模式识别方法中,至少一个所述分类处理包括:映射步骤,用于在N(N≥2)维特征空间中将输入数据映射为对应点;判断步骤,用于基于对应点,判断是否执行下一分类处理;以及选择步骤,用于当在判断步骤中判断为应当执行下一分类处理时,基于对应点选择接下来要执行的分类处理。 |
申请公布号 |
CN101398900B |
申请公布日期 |
2013.08.21 |
申请号 |
CN200810148863.8 |
申请日期 |
2008.09.27 |
申请人 |
佳能株式会社 |
发明人 |
鸟居宽;森克彦;御手洗裕辅;佐藤博;金田雄司;铃木崇士 |
分类号 |
G06K9/62(2006.01)I |
主分类号 |
G06K9/62(2006.01)I |
代理机构 |
北京魏启学律师事务所 11398 |
代理人 |
魏启学 |
主权项 |
一种模式识别方法,用于通过依次执行多个分类处理的组合将输入图像数据分类成图像数据不包括被检测物体的第一类或图像数据包括所述被检测物体的第二类,其中,所述多个分类处理中的至少一个分类处理包括:映射步骤,用于将从所述输入图像数据所获得的n个部分图像数据项中的各部分图像数据项的特征量映射为在n维特征空间中具有坐标的对应点,其中,n是等于或大于2的整数;判断步骤,用于基于在所述映射步骤中映射得到的所述对应点在所述n维特征空间中的位置,判断是所述输入图像数据属于所述第一类还是应当对所述输入图像数据执行下一分类处理;以及选择步骤,用于当在所述判断步骤中判断为应当对所述输入图像数据执行下一分类处理时,通过将在所述映射步骤中映射得到的所述对应点在所述n维特征空间中的坐标和预定参数的内积的累积值与分支阈值进行比较,从一个或多个可选择的分类处理中选择接下来应当执行的分类处理,以将所述输入图像数据分类成多个类。 |
地址 |
日本东京都大田区下丸子3丁目30番2号 |