发明名称 模拟集成电路测试仪
摘要 本实用新型提供一种模拟集成电路测试仪,包括:芯片测试电路,包括0809、0832、2114、3524、LM324和LM347芯片测试电路,适于接收输入,并且产生输出;模数转换器,与0832、3524、LM324和LM347芯片测试电路耦接,用于对其输出进行模数转换;和单片机,用于接收来自0809和2114芯片测试电路以及模数转换器的输出,将其与预设的正确值进行比较,如果结果一致或者在误差范围内,则确定芯片功能正常,否则确定芯片出错。该模拟集成电路测试仪能够对6种特定型号的模拟芯片进行测试,包括0809,0832,2114,3524,LM324,LM347。
申请公布号 CN203149087U 申请公布日期 2013.08.21
申请号 CN201320079785.7 申请日期 2013.02.01
申请人 安徽工程大学 发明人 陈孟元;曹龙;李腾飞
分类号 G01R31/3163(2006.01)I 主分类号 G01R31/3163(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种模拟集成电路测试仪,其特征在于,包括: 芯片测试电路,包括0809、0832、2114、3524、LM324和LM347芯片测试电路,适于接收输入,并且产生输出; 模数转换器,与0832、3524、LM324和LM347芯片测试电路耦接,用于对其输出进行模数转换;和 单片机,用于接收来自0809和2114芯片测试电路以及模数转换器的输出,将其与预设的正确值进行比较,如果结果一致或者在误差范围内,则确定芯片功能正常,否则确定芯片出错。
地址 241008 安徽省芜湖市高新区长江南路83号科创中心安徽工程大学技术转移中心