发明名称 |
模拟集成电路测试仪 |
摘要 |
本实用新型提供一种模拟集成电路测试仪,包括:芯片测试电路,包括0809、0832、2114、3524、LM324和LM347芯片测试电路,适于接收输入,并且产生输出;模数转换器,与0832、3524、LM324和LM347芯片测试电路耦接,用于对其输出进行模数转换;和单片机,用于接收来自0809和2114芯片测试电路以及模数转换器的输出,将其与预设的正确值进行比较,如果结果一致或者在误差范围内,则确定芯片功能正常,否则确定芯片出错。该模拟集成电路测试仪能够对6种特定型号的模拟芯片进行测试,包括0809,0832,2114,3524,LM324,LM347。 |
申请公布号 |
CN203149087U |
申请公布日期 |
2013.08.21 |
申请号 |
CN201320079785.7 |
申请日期 |
2013.02.01 |
申请人 |
安徽工程大学 |
发明人 |
陈孟元;曹龙;李腾飞 |
分类号 |
G01R31/3163(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/3163(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种模拟集成电路测试仪,其特征在于,包括: 芯片测试电路,包括0809、0832、2114、3524、LM324和LM347芯片测试电路,适于接收输入,并且产生输出; 模数转换器,与0832、3524、LM324和LM347芯片测试电路耦接,用于对其输出进行模数转换;和 单片机,用于接收来自0809和2114芯片测试电路以及模数转换器的输出,将其与预设的正确值进行比较,如果结果一致或者在误差范围内,则确定芯片功能正常,否则确定芯片出错。 |
地址 |
241008 安徽省芜湖市高新区长江南路83号科创中心安徽工程大学技术转移中心 |