发明名称 SEMICONDUCTOR CHIP TESTING APPARATUS
摘要
申请公布号 KR20130092303(A) 申请公布日期 2013.08.20
申请号 KR20120013956 申请日期 2012.02.10
申请人 INTEKPLUS CO., LTD. 发明人 LIM, SSANG GUN;LEE, SANG YOON;JOO, BYEONG GWON;LEE, TAE YONG
分类号 G01R31/26;G01B11/30 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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