发明名称 |
一种线束测试仪及基于该线束测试仪的线束测试方法 |
摘要 |
本发明公开了一种线束测试仪,包括微控制器单元以及分别与微控制器单元MCU连接的输入设备,存储电路,显示设备,输入端口和输出端口,所述微控制器单元MCU与输出端口之间连接隔离电路;有效解决了电路扫描时端口电平之间的干扰问题,存储电路解决了掉电后需重新学的问题。本发明还公开了一种基于该线束测试仪的线束测试方法,该方法可获得标准线输入、输出端口有效线的数目及所在位置和待测线输入、输出端口错误线的数目、位置及错误类型,使得维修人员能够根据错误类型有针对性的维修,节约了人力资源,提高了测试的准确率。 |
申请公布号 |
CN103245871A |
申请公布日期 |
2013.08.14 |
申请号 |
CN201310179988.8 |
申请日期 |
2013.05.15 |
申请人 |
南京通用电器有限公司 |
发明人 |
张宁宇 |
分类号 |
G01R31/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/02(2006.01)I |
代理机构 |
南京经纬专利商标代理有限公司 32200 |
代理人 |
朱小兵 |
主权项 |
一种线束测试仪,其特征在于:包括微型计算机、输入设备、显示设备、输入端口和输出端口、存储电路、隔离电路;所述微型计算机分别连接输入设备、存储电路、显示设备、输入端口和输出端口,其中输出端口与微型计算机之间连接隔离电路,微型计算机输出电平数据经过隔离电路后控制输出端口的电平,同时回读输入端口的电平数据,微型计算机将输出电平数据与回读电平数据做逻辑运算,运算结果发送至显示设备显示,同时将运算结果存储到存储电路,微型计算机的运行通过输入设备控制;所述隔离电路用于电路扫描时隔离端口电平之间的干扰,存储电路存储系统工作过程中的数据。 |
地址 |
210000 江苏省南京市白下区光华路一号白下高新产业园D幢 |