一种菲涅尔双面镜干涉成像光谱仪

摘要

本发明属于光谱测量技术领域，公开了一种菲涅尔双面镜干涉成像光谱仪。它包括光学结构、二维探测器和数据采集系统，所述的光学结构包括前置望远镜、入射狭缝和菲涅尔双面镜；所述菲涅尔双面镜包括平面反射镜M1和平面反射镜M2。本发明的成像光谱仪，在结构上，从入射狭缝到二维探测器之间仅有一个光学元件（菲涅尔双面镜），这使得仪器结构大为简化；另外，由于本发明在光路结构中采用菲涅尔双面镜，菲涅尔双面镜表面反射率高，入射光能损失低。

主权项

一种菲涅尔双面镜干涉成像光谱仪，其特征在于，它包括光学结构、二维探测器（4）和数据采集系统（5），所述的光学结构包括前置望远镜（1）、入射狭缝（2）和菲涅尔双面镜（3）；所述菲涅尔双面镜（3）包括平面反射镜M1和平面反射镜M2；在前置望远镜（1）至二维探测器（4）的光路上，依次排列安装有前置望远镜（1）、入射狭缝（2）、菲涅尔双面镜（3）和二维探测器（4）；所述入射狭缝（2）位于前置望远镜（1）的焦平面上；垂直于入射狭缝（2）方向的从入射狭缝（2）出射的光束全部落在菲涅尔双面镜（3）上，菲涅尔双面镜（3）的两个平面反射镜的交接线位于所述垂直于入射狭缝（2）方向的从入射狭缝（2）出射的光束的正中间；二维探测器（4）与入射狭缝（2）的方向平行、并与两路反射光相干区域内零光程差所在的平面垂直，且所述二维探测器（4）只对两路反射光相干区域内零光程差所在平面的上方或下方的干涉图进行检测；所述二维探测器（4）与数据采集系统（5）连接；所述二维探测器（4）采用如下公式对一维狭缝的像进行测量，获得一维目标物点x对应的像： I ( x ) = Σ 0 ∞ P ( v ) 上式中，物点x发出的各个波长上光波的光强的总和等于物点x发出的总光强，记为I(x)，P(ν)为一维狭缝某物点x的光谱。