发明名称 |
电子器件检测设备 |
摘要 |
一种电子器件检测设备,用于检测编带电子器件,它包括传动装置、支撑部、检测装置、测试装置、第一驱动装置、冲撞件、第二驱动装置及控制器。传动装置包括电机、两个传动轮及传送带,电机用于驱动两个传动轮的至少一个,传送带套接在两个传动轮上,支撑部与传送带的外表面抵接,第一驱动装置与测试装置连接,第二驱动装置与冲撞件连接,控制器与电机、测试装置、第一驱动装置、第二驱动装置及检测装置连接。上述电子器件检测设备可以在不拆下编带电子器件上的电子器件的情况下,自动地对编带电子器件上的多个电子器件进行逐一测试,并通过撞弯不合格品的引脚来标记测试结果。相对传统的检测方法,大大提高了检测效率。 |
申请公布号 |
CN203133193U |
申请公布日期 |
2013.08.14 |
申请号 |
CN201320012766.2 |
申请日期 |
2013.01.10 |
申请人 |
深圳市晶导电子有限公司 |
发明人 |
龚豪;雷成;赖辉朋 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
邓云鹏 |
主权项 |
一种电子器件检测设备,其特征在于,包括:传动装置,包括:电机、两个传动轮及传送带,所述电机用于驱动至少一个所述传动轮转动,所述传送带套接在所述两个传动轮上;支撑部,与所述传送带的外表面抵接,用于与所述传送带配合夹持编带电子器件的编带纸;检测装置,用于检测当前位置是否存在电子器件;测试装置,用于测试所述当前位置的电子器件是否合格;第一驱动装置,与所述测试装置连接,用于驱动所述测试装置伸向/远离所述当前位置的电子器件的引脚;冲撞件,用于撞击所述当前位置的电子器件;第二驱动装置,与所述冲撞件连接,用于驱动所述冲撞件撞击/远离所述当前位置的电子器件;控制器,与所述电机、测试装置、第一驱动装置、第二驱动装置及检测装置连接,所述控制器用于根据所述检测装置和测试装置的检测结果和测试结果控制所述电机的转动以及所述第一驱动装置和第二驱动装置的驱动。 |
地址 |
518101 广东省深圳市宝安区新安街道留仙二路鸿辉工业园三号厂房1-4层 |