发明名称 穿隧磁阻元件的制造方法
摘要 本发明提供了一种无需MgO成膜工序的垂直磁化型磁性元件的制造方法。本发明的磁阻元件(1)的制造方法包括在基体(10)上层压第一层(30),该第一层(30)由包含Co、Ni和Fe中的至少一种的材料构成。接着,在第一层(30)上层压由Mg构成的第二层(40)。接着,对包括所述第一层(30)和所述第二层(40)的层压体实施氧化处理,使第二层(40)的Mg氧化为MgO。接着,对所述层压体实施加热处理,使第二层(40)结晶,并使第一层(30)垂直磁化。根据该制造方法,可在不产生由MgO成膜所引起的问题的情况下,制造出CoFeB-MgO系材料的垂直磁化型磁性元件。
申请公布号 CN103250263A 申请公布日期 2013.08.14
申请号 CN201180058075.X 申请日期 2011.12.20
申请人 株式会社爱发科;国立大学法人东北大学 发明人 山本弘辉;森田正;大野英男;池田正二
分类号 H01L43/12(2006.01)I;H01L43/08(2006.01)I;H01L43/10(2006.01)I 主分类号 H01L43/12(2006.01)I
代理机构 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 代理人 徐川;张颖玲
主权项 一种磁阻元件的制造方法,包括:在基体上层压第一层,所述第一层由包含Co、Ni和Fe中的至少一种的材料构成;在所述第一层上层压由Mg构成的第二层;对包括所述第一层和所述第二层的层压体实施氧化处理,使所述第二层的Mg氧化为MgO;以及对所述层压体实施加热处理,使所述第二层结晶,且使所述第一层垂直磁化。
地址 日本神奈川县