| 主权项 |
基于参考向量和位掩码的SOC的测试方法，它包括如下步骤：步骤一：把电路对应的测试数据进行压缩；步骤二：将压缩后的数据传输并存储在ATE上；步骤三：通过芯片上的解压结构对压缩数据解压缩，还原成测试数据；步骤四：用测试数据对IP核进行测试；其特征在于步骤一的压缩过程如下：步骤一一：将电路对应的测试数据按照多扫描链的形式排列，获得多个测试片段；将电路对应的测试数据按照多扫描链的形式排列成测试片段的方法为：设电路对应的测试数据为测试集TD，由n个向量组成，分别为t1,t2,t3,...,tn，IP核内扫描链数量为m，则每个测试向量被平均分割成m组，每组包含d位数据，若每一个测试向量的位数为Ntotal，d＝Ntotal/m，若某组数据长度不足d，用不确定位“X”补齐，将所有测试向量的第j组数据组合在一起形成一个扫描链，j=1,2，...,m，所有扫描链的第k位组合到一起构成第k个测试片段；步骤一二：对所有的测试片段进行团划分，然后根据硬件中分配字典的容量选择团划分后分组中频率高的测试片段作为字典条目；对测试片段进行团划分的方法为：步骤a：针对测试片段建立无向图G=(V，E)，其中V为顶点集，E为边集；将无向图中没有边的测试片段利用位掩码进行编码，使该测试片段与有边的顶点相连；步骤b：在无向图中搜索当前度数最大的点，若最大点唯一，执行步骤d；若最大点不唯一，执行步骤c；步骤c：选择无关位X最少的顶点作为当前度数最大的点；步骤d：用所有与当前度数最大顶点相连的顶点建立子图H；步骤e：搜索子图H，获得该子图H中具有最多公共邻居的顶点对，若不唯一，选择无关位X最少的顶点对作为最多公共邻居的顶点对，然后执行步骤f；若唯一，执行步骤f；步骤f：合并顶点对；步骤g：更新子图H，更新无向图G，若无向图G中的E为空，则完成团划分；否则返回步骤a；步骤一三：根据字典条目中测试片段的出现频率，以由高到低的顺序，利用可变前缀索引编码表进行编码，形成字典中每一个条目的索引；步骤一四：将步骤一一得到的多个测试片段分别与字典中的每一个条目逐一进行比较，对于存在相容条目的测试片段，采用步骤一五进行压缩；对于不存在相容条目的测试 片段，采用步骤一六进行压缩；直到所有测试片段都压缩完成为止；步骤一五：若所述测试片段使用位掩码，则测试数据的压缩结果为“前缀00+位掩码+索引”；若所述测试片段未使用位掩码，则测试数据的压缩结果为“前缀01+索引”，所述索引是与测试片段相容的条目对应的索引；步骤一六：利用VPDRL码对测试数据进行压缩，压缩结果为“前缀1+VPDRL码”，完成测试数据的压缩。 |
