发明名称 |
射频指标测试系统及其控制方法 |
摘要 |
本发明实施例公开了射频指标测试系统及其控制方法,应用于通信技术领域。本发明实施例的系统中包括基站,基站生成测试控制信号,将测试控制信号与被测信号承载到射频信号的不同频段,并将承载后的射频信号发送给射频指标测试仪器,这样射频指标测试仪器就根据测试控制信号控制对被测信号的测试。本发明实施例中射频产品如基站即可控制射频指标测试仪器对该射频产品的测试,而不需要额外的设备来进行控制,简化了对射频指标测试的结构,降低对生产测试环境和射频产品如基站开局的现场测试环境的搭建要求。 |
申请公布号 |
CN101834678B |
申请公布日期 |
2013.08.14 |
申请号 |
CN201010137703.0 |
申请日期 |
2010.03.31 |
申请人 |
华为技术有限公司 |
发明人 |
夏俊;张勇 |
分类号 |
H04B17/00(2006.01)I |
主分类号 |
H04B17/00(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 |
代理人 |
彭愿洁;李文红 |
主权项 |
一种射频指标测试系统,其特征在于,包括:基站;所述基站,用于生成测试控制信号,所述测试控制信号用于指示射频指标测试仪器对该基站的被测信号进行测试;将所述被测信号和测试控制信号承载到射频信号的不同频段,并将承载后的射频信号发送给射频指标测试仪器;以便所述射频指标测试仪器根据所述射频信号中的测试控制信号控制对所述被测信号的测试,简化了对射频指标测试的结构;所述系统还包括:射频指标测试仪器,用于接收所述基站发送的射频信号,分离所述射频信号得到测试控制信号和被测信号,根据所述测试控制信号控制对所述被测信号的测试。 |
地址 |
518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 |