一种实现DIMM测试的方法

摘要

本发明提供一种实现DIMM测试的方法，其具体实现步骤为：首先将现场可编程门阵列FPGA芯片连接控制芯片、高速接口和多个通道的双列直插式存储模块DIMM逻辑接口，由FPGA芯片、控制芯片、高速接口、DIMM逻辑接口组成DIMM验证系统，该验证系统形成一电子盘；然后通过高速接口将主设备端的读写指令向系统发送；最后由控制芯片负责指令解析及通过控制DIMM逻辑来对待测试DIMM进行读写操作，实现DIMM测试。该一种实现DIMM测试的方法和现有技术相比，测试速度快，测试效率高，可高速读写，具有很好的推广使用价值。

主权项

一种实现DIMM测试的方法，其特征在于其具体实现步骤为：首先将现场可编程门阵列FPGA芯片连接控制芯片、高速接口和多个通道的双列直插式存储模块DIMM逻辑接口，由FPGA芯片、控制芯片、高速接口、DIMM逻辑接口组成DIMM验证系统，该验证系统形成一电子盘；然后通过高速接口将主设备端的读写指令向系统发送；最后由控制芯片负责指令解析及通过控制DIMM逻辑来对待测试DIMM进行读写操作，实现DIMM测试，上述FPGA芯片内部包括AHB总线、DIMM选择逻辑、时钟/控制信号缓冲逻辑、DIMM控制逻辑、总线矩阵、DMA、SATA控制逻辑和片上存储，在系统上电后，系统根据DIMM信号，由DIMM选择逻辑的仲裁器控制选择器来选择DIMM控制和时钟信号的通路：如为UDIMM则直接接入DIMM控制逻辑，如为RDIMM则通过时钟/控制信号缓冲逻辑接入DIMM控制逻辑；所述总线矩阵为多个通道的DIMM提供每个通道的独立总线；所述DMA支持高速读写数据传输。