测距方法、测距系统与其处理方法

摘要

一种测距方法，包括投射具有一斑点图样的面光源到多个参考平面上，以使每一参考表面上分别呈现斑点图样的影像，而此斑点图样具有多个斑点。因此，本发明可以撷取每一参考平面上的斑点图样的影像，以获得多个参考影像资讯。当一待测物出现在面光源所涵盖的范围中时，撷取待测物朝向面光源的表面上所呈现的斑点图样的影像，以获得一待测物影像资讯。接着，从参考影像资讯和待测物影像资讯中计算每一斑点与相邻斑点之间的亮度关系，而获得各斑点的相对亮度资讯，然后再依据这些相对亮度资讯而计算出待测物的位置。

主权项

一种测距系统，其特征在于包括：至少一个参考平面；一个光源模组，向该至少一个参考平面和一个待测物投射具有斑点图样的面光源，使得该至少一个参考平面和该待测物朝向该光源模组的表面上呈现斑点图样的影像，其中该斑点图样具有多个斑点；一个影像撷取装置，撷取各该参考平面上所呈现的斑点图样的影像，而产生一参考影像资讯，并撷取该待测物上所呈现的斑点图样的影像，而产生一待测物影像资讯；以及一个处理模组，耦接该影像撷取装置，以取得该参考影像资讯和该待测物影像资讯，并计算每一该些参考影像资讯和该待测物影像资讯中各该斑点与相邻斑点之间的亮度关系，而获得每一该些斑点的相对亮度资讯，以依据该些相对亮度资讯而计算出该待测物的位置。