| 发明名称 | 浮地测试系统 | ||
| 摘要 | 本实用新型涉及集成电路测试领域，公开了一种浮地测试系统。本实用新型中浮地测试系统包含：浮地测量电路、电源隔离电路和信号隔离电路；被测系统的系统电源通过电源隔离电路与浮地测量电路连接；被测系统的系统信号通过信号隔离电路与浮地测量电路进行传递。通过隔离电路把浮地测量电路同被测系统其他电路隔离开，使得浮地测试系统不受大地电性能的影响，可使功率地和信号地之间的隔离电阻很大，阻止共地阻抗电路性耦合产生的电磁干扰，能满足较高电压和较大电流的测试要求。 | ||
| 申请公布号 | CN203133243U | 申请公布日期 | 2013.08.14 |
| 申请号 | CN201320067557.8 | 申请日期 | 2013.02.05 |
| 申请人 | 上海宏测半导体科技有限公司 | 发明人 | 毛国梁;曹云飞 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R15/14(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人 | 成丽杰 |
| 主权项 | 一种浮地测试系统，其特征在于，包含：浮地测量电路、电源隔离电路和信号隔离电路；被测系统的系统电源通过所述电源隔离电路与所述浮地测量电路连接；被测系统的系统信号通过所述信号隔离电路与所述浮地测量电路进行传递。 | ||
| 地址 | 201114 上海市闵行区浦江镇联航路1588号明浦孵化大楼1号楼C幢4楼 | ||