发明名称 触控感测元件的压力侦测方法以及使用该方法的电子装置
摘要 一种触控感测元件的压力侦测方法,该方法包括下列步骤:提供第一电位差至第一薄膜的两电极;利用所述第一电位差的分压对电容充电;取样所述电容的充电电压,以取得多个第一电压值,并根据该多个第一电压值求得第一电压值的变化;将所述第一电压值的变化与门槛值相比较;以及当所述第一电压值的变化小于所述门槛值时,对所述多个第一电压值中的至少一者进行后处理。本发明另提供一种使用上述压力侦测方法的电子装置。本发明提供的压力侦测方法和电子装置通过侦测电容的充电电压变化以判定触压动作是否为有效触压,且由于不须直接计算电阻值,具有较高的位置精确度。
申请公布号 CN101996014B 申请公布日期 2013.08.14
申请号 CN200910167219.X 申请日期 2009.08.21
申请人 宏达国际电子股份有限公司 发明人 房国斌;曾恕宏
分类号 G06F3/045(2006.01)I 主分类号 G06F3/045(2006.01)I
代理机构 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人 陈小莲;王凤桐
主权项 一种触控感测元件的压力侦测方法,所述触控感测元件包括第一薄膜和第二薄膜,每个薄膜包括两电极,其中所述第一薄膜的两电极分别形成于所述第一薄膜上沿第一方向的两相对侧,所述第二薄膜的两电极分别形成于所述第二薄膜上沿第二方向的两相对侧,所述第一方向与所述第二方向相互垂直,所述侦测方法包括下列步骤:提供第一电位差至所述第一薄膜的两电极;利用所述第一电位差的分压,对电容进行充电;取样所述电容的充电电压,以取得多个第一电压值,并根据该多个第一电压值求得第一电压值的变化;将所述第一电压值的变化与第一门槛值相比较;提供第二电位差至所述第二薄膜的两电极;利用所述第二电位差的分压,对所述电容进行充电;取样所述电容的充电电压,以取得多个第二电压值,并根据所述多个第二电压值求得第二电压值的变化;将所述第二电压值的变化与第二门槛值相比较,其中所述第一门槛值与所述第二门槛值为一相同或两不同门槛值;当所述第一电压值的变化大于所述第一门槛值时或当所述第二电压值的变化大于所述第二门槛值时,忽略所述多个第一电压值和第二电压值;以及当所述第一电压值的变化小于所述第一门槛值以及当所述第二电压值的变化小于所述第二门槛值时,根据所述至少一个第一电压值以及所述至少一个第二电压值计算位置坐标并执行对应于所述位置坐标的功能。
地址 中国台湾桃园市兴华路23号