发明名称 |
基于影像测绘的光学相干层析成像技术 |
摘要 |
基于影像测绘的光学相干层析成像技术。一种用于样品成像的方法。该方法包括,在单次探测事件中,从样品上的采样点接受该点对应的包含深度编码的电磁场,并按照各个对应的预先设定好的方向将这些电磁场重定向色散成像仪上。该方法还包括:将这些包含深度编码的电磁场进行谱域分散,获得对应的光谱,并将这些光谱在探测器上重新成像,最后使用探测器对这些光谱进行检测。 |
申请公布号 |
CN103250036A |
申请公布日期 |
2013.08.14 |
申请号 |
CN201180058100.4 |
申请日期 |
2011.11.30 |
申请人 |
威廉马什赖斯大学 |
发明人 |
T·S·特卡兹克;M·皮尔塞 |
分类号 |
G01J3/28(2006.01)I;A61B5/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01J3/28(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
蒋世迅 |
主权项 |
一种样品成像的方法,该方法包括:在单次探测事件中:从样品上的采样点接受该点对应的包含深度编码的电磁场;按照各个对应的预先设定好的方向将这些电磁场重定向色散成像仪上;将这些包含深度编码的电磁场进行谱域分散,获得对应的光谱,并将这些光谱在探测器上重新成像;和使用探测器对这些光谱进行检测。 |
地址 |
美国得克萨斯 |