| 主权项 |
一种全光场全斯托克斯参量检测装置，其特征在于，该装置包括：补偿器（2）、微偏振检偏器阵列（3）、CCD探测器阵列（4）、放大器（6）、同步数据采集卡（7）、计算机系统（8）及偏压控制器（9），其位置关系是：沿着待测光学系统（1）所产生的平行入射光束前进方向上，依次是所述的补偿器（2）、微偏振检偏器阵列（3）和CCD探测器阵列（4）；所述微偏振检偏器阵列（3）是由微偏振检偏器超像素（301）的阵列组成，所述的微偏振检偏器超像素（301）由0度线偏振微检偏器（302）、45度线偏振微检偏器（303）、90度线偏振微检偏器（304）和135度线偏振微检偏器（305）组成；所述的CCD探测器阵列（4）是由CCD探测器超像素（401）的阵列组成的，所述CCD探测器阵列超像素（401）是由四个相同的CCD探测器子像素组成；所述的微偏振检偏器阵列（3）和所述的CCD探测器阵列（4）集成在一起，使所述的微偏振检偏器超像素（301）阵列和CCD探测器超像素（401）阵列一一对准，形成对准超像素阵列（301‑401）；所述的CCD探测器阵列（4）经所述的放大器（6）、同步数据采集卡（7）与所述的计算机系统（8）的输入端相连，该计算机系统（8）的输出端接所述的偏压控制器（9）的输入端，该偏压控制器（9）的输出端接所述的补偿器（2）的控制端。 |
