发明名称 电浆蚀刻处理方法及电浆蚀刻处理装置
摘要 本发明系提供一种于电浆蚀刻处理时,可容易且适当地进行形状控制的电浆蚀刻处理方法,其包含有:将半导体基板W保持于处理容器12内所设置之持定台14上的步骤;产生激发电浆用之微波的步骤;使介电板16与持定台14之间隔达100mm以上,且处理容器12内之压力达50mTorr以上,通过介电板16而将微波导入至处理容器12内,并于处理容器12内产生电浆的电浆产生步骤;以及,供给电浆蚀刻处理用之反应气体至处理容器12内,以藉由所产生之电浆对该半导体基板W进行电浆蚀刻处理的处理步骤。
申请公布号 TWI405260 申请公布日期 2013.08.11
申请号 TW098119303 申请日期 2009.06.10
申请人 东京威力科创股份有限公司 日本 发明人 佐佐木胜
分类号 H01L21/3065 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人 林秋琴 台北市大安区敦化南路1段245号8楼;何爱文 台北市大安区敦化南路1段245号8楼
主权项
地址 日本