试验被试验元件之试验装置及电子元件

摘要

本发明的课题是由数位多重信号来生成类比试验信号。为了完成此课题，本发明提供一种试验装置，是用以试验被试验元件之试验装置，其具备：数位信号生成部，其将n位元(但是，n为1以上的整数)的数位试验信号，以一个以上并列之方式加以输出；m个驱动电路，其各自要被连接至被试验元件的复数个数位端子；以及类比信号生成部，其基于数位信号生成部所输出的数位试验信号，将n×m位元(但是，m为2以上的整数)的数位多重信号，变换为类比信号以生成类比试验信号。