发明名称 检测装置
摘要 一种藉由射频导引器、压控震荡器、侦测器及处理器等价格平实的元件即可架构出之检测装置,其系用于检测天线之反射系数,以得知其之阻抗匹配资讯。其中,射频导引器具有第一通道及第二通道。压控震荡器会提供一射频讯号,并适于通过射频导引器之第一通道而传送至天线。当天线接收射频讯号而产生一反射讯号时,反射讯号则会通过第二通道而传送至侦测器,侦测器会量测反射讯号之反射能量并产生一直流电讯号。最后,处理器会接收直流电讯号及射频讯号,并根据直流电讯号之电压值及射频讯号之频率,以进行运算而得到天线之反射系数。
申请公布号 TWI404947 申请公布日期 2013.08.11
申请号 TW100101578 申请日期 2011.01.17
申请人 国立台湾科技大学 台北市大安区基隆路4段43号 发明人 廖文照;徐绍恩;朱佑君;张仕勋;陈义达;林琮钧
分类号 G01R29/08 主分类号 G01R29/08
代理机构 代理人 庄世超 台北市中正区罗斯福路2段140号11楼之5
主权项
地址 台北市大安区基隆路4段43号